X-RAY XDL210熒光測厚儀的詳細(xì)資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
X-RAY XDL210熒光測厚儀
X-RAY XDL210熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>
通用規(guī)格
設(shè)計用途
能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍
從元素氯(17) 到 鈾(92)配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，多可同時測定 24 種元素
設(shè)計理念
臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向
由上往下
X 射線源
X 射線管
帶鈹窗口的鎢管
高壓三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準(zhǔn)直器）
Ø 0.3 mm 可選：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形 0.3 mm x 0.05 mm
測量點(diǎn)尺寸
取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小，
實際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致
小的測量點(diǎn)大小約 Ø 0.2mm
X 射線探測
X 射線接收器
測量距離
比例接收器
0 ~ 80 mm，使用保護(hù)的 DCM 測量距離補(bǔ)償法
樣品定位
視頻系統(tǒng)
高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控
十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸）
可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點(diǎn)用于定位樣品
放大倍數(shù)
40x – 160x
電氣參數(shù)
電源要求
220 V ，50 Hz
功率
大 120 W （不包括計算機(jī)）
保護(hù)等級
IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸
寬×深×高[mm]：570×760×650
內(nèi)部測量室尺寸
寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品大高度”部分的說明）
重量
94 kg
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