電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP的詳細資料：

電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP

廣泛應(yīng)用的標準支架V18和支架V27用于測量導(dǎo)線上涂層的厚度

COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀
4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。

Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀

PCB涂層厚度測量設(shè)計用于測量任何金屬涂層的厚度，如任何基材上的多層。 該器件通過陽極溶解（DIN EN ISO 2177）根據(jù)庫侖法進行工作。 易于操作和菜單支持的操作員方向使得該設(shè)備非常適用于電鍍領(lǐng)域的生產(chǎn)監(jiān)控和端部檢測。
該機器具有近100種預(yù)定義的應(yīng)用，用于測量不同的涂層系統(tǒng)（例如鐵上的鋅，黃銅上的鎳）和去鍍速度（例如1,2,5和10m / min）。 這也可以組合起來用于測試多層系統(tǒng)。
強大和用戶友好的PCB涂層厚度測量計是生產(chǎn)監(jiān)控和進入檢測的理想選擇。

典型應(yīng)用：
電鍍緊固件
測試印刷電路板上殘留的純錫含量
鍍鉻浴室配件
測量常見的單相以及雙相涂層，如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
金屬涂層的測量厚度品種為0.05 - 50m，不需要預(yù)先設(shè)置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測量過程無關(guān)
測量印刷電路板上純錫的剩余部分，以確?？珊感?br />多層涂層，如鐵/塑料（abs）基板上的CR / NI / CU

電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP

使用5 x 5個單獨測量的測試區(qū)域校準測量系統(tǒng)的標準

作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟的替代方法。 

很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。 
 
zui常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確 ?？珊感?。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS） 基材上，經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個 方法進行測量

COULOSCOPE CMS基本配置：
儀器：            Couloscope CMS
測量臺：          V24、V26、V18 等
電解液：          F1 ～ F22
COULOSCOPE CMS特征：
標準：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm