Couloscope CMS2庫侖法測厚儀德國fischer*的詳細(xì)資料：

Couloscope CMS2庫侖法測厚儀德國fischer*

Couloscope CMS2庫侖法測厚儀德國fischer*測厚儀，用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差，在電鍍工業(yè)中應(yīng)用越來越廣泛，雙層鎳的測量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。

產(chǎn)品特點
測厚儀，使用庫侖析法電解鍍層,符合 DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)
V18測量臺通過控制氣泵具有自動充填和清空測量槽中電解液功能
大幅液晶顯示屏便于操作和顯示測量結(jié)果

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

測厚儀，測量幾乎所有金屬鍍層厚度,無論基材是金屬或非金屬,鍍層也可以是多鍍層。典型的可測量厚度范圍 0.05 – 40 μm。也適用于線材上鍍層的測量

COULOSCOPE CMS STEP庫倫法電解測厚儀簡單介紹：
COULOSCOPE CMS （庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度，配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。
COULOSCOPE CMS地測量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
COULOSCOPE CMS STEP:
用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對多層鎳的測量變得越來越重要了，雙層鎳的測量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀
COULOSCOPE CMS STEP：
儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
COULOSCOPE CMS STEP庫倫法電解測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：
同時測量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學(xué)電位。
幾乎可以測量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層系統(tǒng)。
在工業(yè)和特殊領(lǐng)域內(nèi)的具體應(yīng)用范圍：
電鍍工業(yè)中的產(chǎn)品監(jiān)控；由于新穎電極簡便的操作，該儀器*地適用于電鍍車間繁雜的工作環(huán)境！ 成品的入庫檢驗，例如汽車工業(yè)中鉻合金輪轂澆筑件（帶雙層鎳）。

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