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泰勒霍普森粗糙度儀DUO測量信息
點擊次數(shù)：72 更新時間：2025-07-03 打印本頁面 返回
一鍵操作即可快速獲取多項粗糙度參數(shù)，包括 Ra（輪廓算術平均偏差）、Rz（微觀不平度十點高度）、Rp（輪廓最大峰高）、Rv（輪廓最大谷深）、Rt（輪廓最大高度）等基礎參數(shù)，還支持 Rz1max、Rsk（偏斜度）、Rq（均方根偏差）、Rku（峰度）及 P 系列（輪廓曲線）參數(shù)（如 Pa、Pz 等），滿足多場景測量需求。
采用接觸式測量技術，核心部件為耐磨金剛石測針與精密機動驅動裝置。測針在電機驅動下沿被測表面移動，高靈敏度壓電傳感器實時捕捉測針垂直位移，將機械運動轉化為電子信號；經數(shù)字化處理后傳輸至微處理器，通過標準化算法計算出表面粗糙度參數(shù)，實現(xiàn)高精度測量。
