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菲希爾多功用測厚儀是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器
點擊次數(shù)：1963 更新時間：2019-01-15 打印本頁面 返回
菲希爾多功用測厚儀是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器
菲希爾多功用測厚儀廣泛應(yīng)用于各種涂膠層如水溶性膠層以及各種PE、PVC、樹脂膜等材料厚度的在線檢測，采用高精度紅外反射探頭，精密“口”字形掃描機構(gòu)連續(xù)對被測物進行寬度方向上的左右掃描，工業(yè)用計算機采集數(shù)據(jù)，具有數(shù)據(jù)處理、掃描測量、任意點定點測量、圖形曲線顯示、偏差 報警、數(shù)據(jù)存儲、查詢等功能。
菲希爾多功用測厚儀對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和標準中稱為覆層，覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦 流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，菲希爾多功用測厚儀適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步，測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。菲希爾多功用測厚儀適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
菲希爾多功用測厚儀采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。菲希爾多功用測厚儀利用磁感應(yīng)原理，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上，如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。
